日本 IM3536 LCR測試儀
日本 IM3536 LCR測試儀DC,4Hz~8MHz測量頻率,今后的*產(chǎn)品
測量頻率DC,4Hz~8MHz
測量時(shí)間:快1ms
基本精度:±0.05% rdg
1mΩ以上的精度保證范圍,也可安心進(jìn)行低阻測量
可內部發(fā)生DC偏壓測量
從研發(fā)到生產(chǎn)線(xiàn)活躍在各種領(lǐng)域中
日本 IM3536 LCR測試儀主機不標配測試治具。請在選件中選擇測試治具和探頭。
日本 IM3536 LCR測試儀技術(shù)參數;
測量模式 | LCR(單一條件下測量),連續測量(保存條件下連續測量) |
測量參數 | Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc(直流電阻),Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε |
測量量程 | 100 mΩ~100 MΩ, 10檔量程(所有參數由Z規定) |
顯示范圍 | Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等 |
基本精度 | Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°(代表值,精度保證范圍:1mΩ~200MΩ) |
測量頻率 | 4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步進(jìn)) |
測量信號電平 | [V模式, CV模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (大50 mA) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (大10 mA) [V模式, CV模式]的[低Z高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (大100 mA) [CC模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (大5 V) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (大1 V) [CC模式]的[低Z高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (大1 V) [直流電阻測量]: 1 V固定 |
DC偏壓 | 發(fā)生范圍:DC電壓0~2.50 V (低Z高精度模式時(shí)0 ~1 V) |
輸出阻抗 | 通常模式:100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω |
顯示 | 彩色TFT5.7英寸,觸摸屏 |
功能 | 比較器、BIN測量(2個(gè)項目10種分類(lèi)),觸發(fā)功能、開(kāi)路·短路補償、接觸檢查、面板保存·讀取功能、存儲功能 |
接口 | EXT I/O (處理器), /USB/U盤(pán)/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD輸出 |
電源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max |
體積及重量 | 330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg |
附件 | 電源線(xiàn)×1,使用說(shuō)明書(shū)×1,CD-R(通訊說(shuō)明書(shū),LCR應用光盤(pán))×1 |
深圳市偉峰儀器儀表有限公司
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