ST-21型方塊電阻測試儀
ST-21型方塊電阻測試儀是一種依照類(lèi)似的國家標準和美國A.S.T.M標準,專(zhuān)門(mén)測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器,可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類(lèi)物質(zhì)的薄層電阻。 | |||||||||||||||||||||||||
該儀器以大規模集成電路為主要核心;用基準電源和運算放大器組成高精度穩流源;帶回路有效正常指示電路;并配以大型LCD顯示讀數,使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點(diǎn)。 | |||||||||||||||||||||||||
◆ 特點(diǎn): | |||||||||||||||||||||||||
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◆ 技術(shù)指標: | |||||||||||||||||||||||||
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◆ ST-21方塊電阻測試儀可選配HP系列四探針探頭的型號及規格: | |||||||||||||||||||||||||
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◆ ST-21方塊電阻測試儀可選配SP-601型方型四探針探頭的型號及規格: | |||||||||||||||||||||||||
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深圳市偉峰儀器儀表有限公司
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