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ST-20掌上型方塊電阻測試儀
更新時(shí)間：2020-05-21   點(diǎn)擊次數：685次
ST-20掌上型方塊電阻測試儀是一種依照類(lèi)似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專(zhuān)門(mén)測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類(lèi)物質(zhì)的薄層電阻。
 
◆ 特點(diǎn)：

1

 采用九十年代推出的大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩定

2

 低功耗

3

 采用單個(gè)電池供電，帶電池欠壓指示

4

 儀器體積僅為：130mmX65mm X23mm

5

 特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜

6

 探頭帶抗靜電模塊
 
◆ 技術(shù)指標：
 

測量范圍

基本量程：方塊電阻10.0-199.9(Ω/口)
擴展量程：方塊電阻100-1999(Ω/口)

測量不確定度

≤5%

探針規格

 探針間距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ

恒流源

 測量過(guò)程誤差：≤±0.8%

電源

 9V疊層電池1節
深圳市偉峰儀器儀表有限公司

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